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Santec掃頻測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過(guò)DUT的傳輸功率，從而準(zhǔn)確計(jì)算出WDL/PDL的數(shù)據(jù)。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測(cè)量方案。
此系統(tǒng)也可簡(jiǎn)化為使用Santec 數(shù)據(jù)采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計(jì)或探測(cè)器，可廣泛用于WDL測(cè)試。
通過(guò)采樣和縮放算法在保持測(cè)試方案完整性上可以保持測(cè)試性能輸出。
另外，該系統(tǒng)尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測(cè)試。通過(guò)快速掃描和準(zhǔn)確測(cè)量可有效節(jié)省時(shí)間，以確保測(cè)試設(shè)備的完整性和有效性。

• 實(shí)時(shí)功率校正
  1 數(shù)字準(zhǔn)確/ PDL特性測(cè)試
  –高功率重復(fù)性＜±0.02db
  –高重復(fù)性±0.01db PDL
  2激光源功率自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)化
• 調(diào)整方法
  1 高波長(zhǎng)分辨率＆高精度
  2 縮短測(cè)量時(shí)間
• 支持多通道測(cè)量
• 支持LabVIEW控制軟件
  1 便于建立測(cè)量參數(shù)
  2 數(shù)據(jù)分析
• 光學(xué)器件和模塊特性
  --可調(diào)諧濾波器、光交叉波分復(fù)用器、光纖布拉格光柵（FBG） 、連接器
• 分離器、 隔離器 、開(kāi)關(guān)
  --WSS、波長(zhǎng)阻斷器 
  --DWDM器件
• 光學(xué)材料特性
• 光學(xué)光譜

  構(gòu)成例

  1/偏振測(cè)量相關(guān)
  

• 可調(diào)諧激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
• Santec PCU-100
• 光學(xué)功率計(jì)
• 光功率計(jì)Santec　MPM-200/Agilent 816xA/B, 774xA 光功率計(jì)

• 2/波長(zhǎng)相關(guān)損耗測(cè)量（MPM-200）
  

• 可調(diào)諧激光器 TSL-710/TSL-550/TSL-510
• 光功率計(jì)Santec MPM-200

• 3/波長(zhǎng)相關(guān)損耗（其它功率計(jì)）
  

• 可調(diào)諧激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
• 掃描處理模塊SPU-100
• 功率計(jì)（需要數(shù)據(jù)記錄功能）

• 軟件支持

• Agilent 816xA/B, N774xA光功率計(jì)
• Yokogawa AQ2200 系列光功率計(jì)
• 光檢測(cè)器

• 如果需要連接其他設(shè)備可以與我們的技術(shù)人員取得聯(lián)系。

  掃頻測(cè)試系統(tǒng)波長(zhǎng)相關(guān)損失 (Wavelength Dependent Loss)測(cè)量

  1.測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍-可測(cè)量80dB以上的高動(dòng)態(tài)范圍

  Santec可調(diào)諧激光器TSL系列，可降低ASE光噪音、實(shí)現(xiàn)了90dB/0.1nm以上*信噪比的同時(shí)，可維持+10dBm以上的高功率的輸出。高密度波分復(fù)用（DWDM）器件和WSS（Wavelength Selective Switch ）等在新一代器件評(píng)價(jià)中發(fā)揮其威力。以下是以各自帶通濾波器（CWDM濾波器）和噪音濾波器（FBG）的測(cè)量數(shù)據(jù)。

  

  2.測(cè)量的波長(zhǎng)精度 +/-3pm

  Santec可調(diào)諧激光器TSL系列，配備了高性能的波長(zhǎng)檢測(cè)器可進(jìn)行波長(zhǎng)精度的測(cè)量。Acetylene（12C2H2）氣體分子作為波長(zhǎng)參考

   

   

  3. 測(cè)量寬波長(zhǎng)分辨率 <0.1pm

  在該掃描測(cè)試系統(tǒng)不僅可以測(cè)量為測(cè)量光學(xué)器件（包括密集波分復(fù)用（DWDM）器件、波長(zhǎng)選擇開(kāi)關(guān) （WSS）等），根據(jù)波長(zhǎng)掃描分辨率可對(duì)濾波器（High Q腔裝置）進(jìn)行高效的測(cè)量。

  

  Parameter	Unit	Specications			Notes
  		TSL-550		TSL-710
  		Type A	Type B	–
  Wavelength Accuracy *1 (typ.) (Absolute)	pm	±16	±4.6	±2.4	At 10nm/s
  		±19	±7.2	±5.0	At 40nm/s
  Wavelength Accuracy (typ.) (Relative)	pm	±9	±3.1	±1.6	At 10nm/s
  		±12	±5.7	±4.2	At 40nm/s
  Wavelength Repeatability *2	pm	±6	±1.9	±1.0	At 10nm/s
  		±7	±3.5	±2.6	At 40nm/s
  Scan Speed	nm/s	1 to 100		0.5 to 100
  Dynamic Range for Insertion Loss (typ.)	dB	70
  Dynamic Range for PDL (typ.)	dB	0 to 5
  Measurement Time for IL (typ.)	sec	4			At 40nm/s *4, *5
  Measurement Time for IL / PDL (typ.)	sec	14			At 40nm/s *4, *5
  Wavelength Resolution	pm	1	0.1
  IL Accuracy (typ.)	dB	±0.02			0 to 20dB Device IL
  		±0.03			20 to 40dB Device IL
  IL Repeatability *2, *3 (typ.)	dB	±0.02(±0.01 (typ.))
  IL Resolution	dB	0.001
  PDL Accuracy (typ.)	dB	±(0.02 + 3% of PDL)			0 to 20dB Device IL
  		±(0.15 + 3% of PDL) (typ.)			20 to 40dB Device IL
  PDL Repeatability *2, *3 (typ.)	dB	±0.01
  PDL Resolution	dB	0.01
  Communication	–	USB (USB 2.0 High Speed)			MPM-200 / PCU-100 / SPU-100
  		GP-IB (IEEE488.2)			TSL-550 / TSL-710 / MPM-200 / PCU-100
  Operating Temperature	degC	15 to 35
  Operating Humidity	%	< 80			non-condensing

  * All specifications are quoted after 1 hour warm-up period. 
  All specifications applies with santec optical power meter MPM-200. 
  *1 Temperature within 25°C±5°C
  *2 Temperature within 25°C±1°C
  *3 Does not include influence of connector.
  *4 The measurement condition is within wavelength resolution 5pm, wavelength range 40nm for 1 channel.
  *5 Measurement dynamic range per scan is up to 35dB.