2651A儀器源測量單元專為高電壓/電流電子產(chǎn)品和功率半導(dǎo)體元件(例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件)的檢定和測試而設(shè)計。 它們提供*的功率、精度、速度、靈活性,且容易用于提高研發(fā)、生產(chǎn)測試和可靠性環(huán)境中的效率。 有兩種儀器可用,提供高達(dá) 3000V 或高達(dá) 2000W 的脈沖電流功率。
特點 | 優(yōu)勢 |
高度靈活的四象限電壓和電流源/負(fù)載,與高精度電壓表和電流表相耦合 | 提供同類最JIA的性能,具有 6½ 位分辨率。 |
源或阱 (2651A) 脈沖功率高達(dá) 2000W(±40V、±50A),或直流電源高達(dá) 200W(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A);輕松連接兩個器件(串聯(lián)或并聯(lián))創(chuàng)建高達(dá) ±100A 或 ±80V 的解決方案 | 支持功率半導(dǎo)體、HBLED、光器件、太陽能電池以及 GaN、SiC 及其他復(fù)合材料和器件的檢定/測試。 應(yīng)用范圍包括半導(dǎo)體接點溫度檢定;高速、高精度數(shù)字化;電遷移研究;以及高電流、高功率設(shè)備測試。 |
源或阱 (2657A) 直流或脈沖功率高達(dá) 180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA) | 提供功率半導(dǎo)體器件檢定和測試所需的高壓,包括 GaN、SiC 及其他復(fù)合材料和器件、高達(dá) 3kV 的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態(tài)檢定。 |
內(nèi)置基于網(wǎng)絡(luò)瀏覽器的軟件 | 支持通過任何瀏覽器、任何計算機(jī)、從全球任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。 |
有數(shù)字化或積分測量模式可供選擇 | 支持準(zhǔn)確檢定瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為,包括快速變化的熱效應(yīng)。 |
TSP(測試腳本處理)技術(shù) | 可以與 2657A 型與 2600B 系列型號輕松地進(jìn)行系統(tǒng)集成。 |
TSP-Link 通道擴(kuò)展總線 | 支持將多臺 2651A 和 2657A 與選定的 2600B 系列 SMU 儀器相結(jié)合,形成一個具有多達(dá) 32 個通道的集成系統(tǒng)。 |
兼容于 8010 型高功率設(shè)備測試夾具和 8020 型高功率接口面板 | 為封裝部件或晶片級高功率設(shè)備測試提供安全而方便的連接。 |
免費的測試腳本構(gòu)建器軟件工具 | 幫助您創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲 TSP 測試腳本。 |
選配的 ACS 基礎(chǔ)半導(dǎo)體元器件檢定軟件 | 開發(fā)、質(zhì)量檢驗或故障分析期間執(zhí)行封裝部件檢定時,限度地提高工作效率。 |
2651A儀器源測量單元